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XRD原位冷熱臺是X射線衍射儀的一款多功能變溫附件，可在-190℃至600℃或室溫至1200℃的寬溫度區(qū)間內，實現(xiàn)對樣品結構的高低溫XRD原位分析。
一、儀器介紹：
XRD原位冷熱臺是X射線衍射儀的一款多功能變溫附件，可在-190℃至600℃或室溫至1200℃的寬溫度區(qū)間內，實現(xiàn)對樣品結構的高低溫XRD原位分析。
該設備支持在空氣、惰性氣氛或真空等多種環(huán)境條件下進行測試，適用于粉末、片狀等不同類型樣品在變溫過程中的結構演變研究。同時，該冷熱臺具備良好的兼容性，可根據(jù)用戶使用的X射線衍射儀型號（如布魯克、賽默飛、理學等品牌）定制樣品架，實現(xiàn)快速適配與集成。
二、儀器主要技術參數(shù)：
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型號 |
CKL600-190-XR |
CKR1200-XR |
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制冷方式 |
液氮制冷 |
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加熱方式 |
電阻加熱 |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
PT100/熱電偶 |
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溫控范圍 |
-190~600℃（可定制） |
室溫~1200℃（可定制） |
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控溫精度 |
±0.1℃ |
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升溫速率 |
0.1～20℃/min |
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降溫速率 |
0.1～20℃/min |
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樣品臺尺寸 |
23×23mm |
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樣品臺材質 |
不銹鋼 |
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X射線透射膜 |
Kapton膜 |
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光路 |
反射 |
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外形尺寸 |
100×100×80mm |
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腔室結構 |
氣密 |
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通訊接口 |
以太網(wǎng)（支持上位機軟件控制） |
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